測定計測

ブースNo. H-3

ナノレベルの構造を可視化して高度な分析情報を提供

ねらい 電子顕微鏡解析による研究開発及び品質管理のお手伝い

提案の内容


ポイント

ウルトラミクロトームで面出しや薄切をすることで断面状態の観察や内部構造の観察が可能になります。

用途・応用分野 基盤、セラミックス、高分子、生物系試料さまざまな分野にも対応可能です。
その他の展示製品・技術
・形態観察、電気特性測定、物理解析、不良解析・故障解析
・化学分析
・信頼性評価試験

株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

所在地 444-0076 岡崎市井田町寺前36

代表者 花市 佳明

URL http://www.kenbikyo.com/

担当者名 花市 佳明

TEL 0564-26-4337

FAX 0564-26-4332

E-mailyoshi.hanaichi@kenbikyo.com
(お問い合わせはマッチングシステム申し込みフォームよりお願いいたします。)

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